日期:2012-07-20瀏覽:11610次
福祿克FLUKE PM6306/PM6304數(shù)字電橋LCR測試儀操作說明
儀器面板按鍵
【LOCAL】 從遠(yuǎn)程控制切換到面板操作,正在通信時請不要按此鍵,以免通信發(fā)生錯誤。
【INTERFACE】通過IEEE-488或RS-232接口進(jìn)行遠(yuǎn)程控制儀器時的參數(shù)設(shè)置。
【AUTO】自動測量模式 屏幕上顯示首項和第二項參數(shù),串/并聯(lián)等效電路。
【SER/PARA】選擇串聯(lián)或并聯(lián)測試模式 并聯(lián)模式(Lp、Cp) 采用恒壓方式測量;而串聯(lián)模式(Ls、Cs) 采用恒流方式測量。測量時顯示等效電路圖為單個元器件,如 ,則該元件呈純阻抗性。
【AVERAGE】增大平均時間指數(shù)以減小測量數(shù)值波動。再次按此鍵,顯示初始設(shè)置的平均時間指數(shù)。有三個平均時間等級可選(PM6304只有一個等級可用),或關(guān)閉不用此功能。
【RCL POSITION】選擇阻抗或容感抗作為首項顯示。當(dāng)選擇了該設(shè)置,第二行測量值前顯示“DOMINANT”,即元件的標(biāo)稱值。
【DEVIATION SET REF】設(shè)置測量值偏差,AUTO→ DEV→按旋鈕選擇偏差值→再按一次DEV。顯示的偏差百分?jǐn)?shù)=(測量值-設(shè)置的偏差)/測量值,為負(fù)數(shù)證明設(shè)置的偏差大于測量值。
【BIN SORT】元件分級。具體見后面介紹。
顯*號表明測量數(shù)值超出基本精度。
【@/Z】相角/阻抗(復(fù)合阻抗)。 在理想狀態(tài)下,相角(θ)在純電阻下是0°,在純電容下是-90°,純電感則為+90°。在測量時,出現(xiàn)一個負(fù)的電抗值,為呈容抗的元件。
【Q/D】顯示品質(zhì)因數(shù)/損耗因數(shù)。
【Vx/Ix】加在測量元件上的電壓/電流。
【HI LEVEL/ NORMAL /LOW LEVEL】測試信號源 高電平交流有效值(方均根值)或直流2V,400歐的內(nèi)阻。常用電平交流有效值(方均根值)或直流1V,內(nèi)阻100歐。低電平交流50 mV或直流300mV,內(nèi)阻100歐。PM6304只可選這三個等級的測試電平,對應(yīng)于PM6306的AC 50mV-2V測試信號源。
【FRQ】選擇50Hz-1MHz測試信號頻率,PM6304的該鍵每按一次切換一個量程。
【INT /EXT /OFF】選擇內(nèi)部0V-10V直流偏壓(PM6304只有2V可選);或外部直流偏壓(zui大DC40V)。不加直流偏置時按OFF。直流偏置電壓可用來測試電解電容和PN結(jié)等器件。
【DC AC】DC選擇50mV-2V直流測試電平(需PM9565直流測量選件,且長按DC鍵2秒鐘,測量目的是進(jìn)行交直流特性的對比);AC選擇50mV-2V交流測試電平。這屬于PM6306的AC測試信號源,對應(yīng)于PM6304的三個等級測試電平。
比如測量電解電容,按AC鍵利用旋鈕選擇交流測試電平1V~2V,選好后再按一次AC鍵確認(rèn)所選的值;再按INT鍵用旋鈕選擇直流偏壓1V或更大,zui后再次按INT確認(rèn)數(shù)值。或按EXT鍵通過儀器后面板加較高的外部直流偏壓。
加偏置進(jìn)行測量過程中屏幕閃爍“over”證明儀器識別所加在被測件的偏置電平過高,應(yīng)減小值再進(jìn)行測量。
【STORE/RECALL】存儲或調(diào)用儀器設(shè)置(9個存儲),注意:存儲的只是測量條件(如測量頻率,電平,偏置電壓),而不是測試結(jié)果。
【STEP/ + - 】設(shè)置數(shù)值。
【FIXTURE SET】夾具設(shè)置。測量時應(yīng)考慮測試夾具的雜散電容,選擇匹配的測試夾參數(shù)設(shè)置才能測量出器件本身的真正值,特別是測試信號頻率﹥20KHz時。如果選用PM9542SMD,SMD適配器測試盒;PM9541B 4線開爾文夾;PM9540/TWE,SMD鑷子;PM9540/BAN,4線香蕉插頭測試線時,存在300pF雜散電容,由n=Cground/100pF得知選SET-C 3。不用特殊測試夾具,僅用配帶的測試位夾時選擇SET-C 0。
【CONT/SINGLE】單次或連續(xù)測量。單次測量時,儀器處于待命狀態(tài),按TRIGGER觸發(fā)鍵一次則測量一次,測量數(shù)值保持不變,直到下一次測量為止。啟用分級功能時,設(shè)置單次測量模式。
【TRIGGER】單次測量觸發(fā)信號。
【CONTACT CHECK】檢查附件夾具連接是否良好,如果連接良好,按下此鍵屏幕顯示PASS;當(dāng)顯示FAIL時,連接不良,按AUTO鍵中止檢查,重新檢查設(shè)置。
【ZERO TRIM】開路/短路歸零。
如果測試條件不斷改變,選擇全校零操作,即選TRIM A依照如下步驟進(jìn)行調(diào)零:
1.按ZERO TRIM,用旋鈕選TRIM A(如果使用同樣測試條件測量,連續(xù)使用儀器時每隔4小時也需選擇TRIM I進(jìn)行調(diào)零)
2.再按一次ZERO TRIM鍵,屏幕顯示閃爍“BUSY Oct”,提示將測試夾開路,開始15秒倒數(shù)計時開路調(diào)零(間隔調(diào)零不用15秒,直接開路調(diào)零緊接著短路調(diào)零,具體依照操作)
3.上一步結(jié)束后,屏幕顯示閃爍“BUSY Sct”,即提示將測試夾具短接,再按一次ZERO TRIM鍵,15秒倒數(shù)計時后,微調(diào)成功,屏幕出現(xiàn)“PASS”,反之顯示失敗“FAIL”。
測量演示
1.正確開機(jī)自檢結(jié)束后,將測試夾具插入,按【CONTACT CHECK】檢查其連接是否良好;
2.按【FIXTURE SET】進(jìn)行測試夾具設(shè)置,使用測試線夾具時選擇SET-C 3,僅用測試位夾時選擇SET-C 0;
3.按【FREQ】,【AC】,選取測量頻率,測量電平;如果測電解電容時按 【INT】另加內(nèi)部直流偏置電壓;
4.按【ZERO TRIM】進(jìn)行調(diào)零(切記:設(shè)置好一切后才調(diào)零);
5. 接入元件按【AUTO】進(jìn)行測量,在測量孔插入一個已知的元件,比如一個1K的電阻,屏幕顯示
此元件為純阻抗電阻;
6.按 [@/Z] ,[Q/D], [Vx/Ix] 查看被測元件的相角/阻抗,品質(zhì)因數(shù)/損耗因數(shù),電平/電流。
測量條件參考:
元件規(guī)格 測量頻率 測量方式 備注
電容<200pF >100KHz 并聯(lián)
電容≥1μF(非電解電容) 100Hz 并聯(lián)
電容≥1μF(電解電容) 100Hz 串聯(lián) 另加直流偏置,比如1V
電感<100nH >100KHz 串聯(lián) 視情況加直流偏置
電感≥1H 100Hz 并聯(lián) 測量電平AC要低,如低至50mV。
電阻<100Ω 1kHz 串聯(lián)
電阻≥10KΩ 1KHz 并聯(lián)
其他元器件測試選用一般測試條件進(jìn)行測試:電平AC選取1V,頻率選取1KHz,使用自動測量模式。
(福祿克FLUKE PM6306/PM6304數(shù)字電橋LCR測試儀操作說明)